AE8700 光谱分析仪
产品简介
AE8700是天津德力最新研制的最大分辨率小于10pm的高性能光谱分析仪，工作于800至1650nm波长范围内，空间耦合输入，最高测量功率+23dBm，功率灵敏度低至-85dBm。
AE8700丰富的专业APP应用，可用于半导体激光器（DFB、FP）光谱特征测量、WDM系统测试、EDFA系统参数测试、透过率 和漂移测试。
AE8700优越的稳定性和可靠性，极快速的光谱扫描速度，开放的数据输出，应对来自光谱测试的各种挑战。
功能特点
- 最高分辨率小于10pm
- 光谱范围 800至1650nm，适用于单模和多模光纤输入；
- 低至 -85dBm 的灵敏度设置；
- 大于80dB 超大动态范围，能够有效分离相近的光谱信号，执行精确测量；
- ±0.005nm 高波长精度，内置校准功能和波长参考源；
- WDM、光源、EDFA 等丰富的功能选择，满足从现场到工厂的各种应用；
- 10.1 寸超大触屏操作，更好的客户体验；
- 齐全的用户数据接口，支持以太网、USB等；
- 根据客户需求建设自动化检测与测试系统。
重要功能
AE8700具有更小的分辨率和更高的光路动态，可以更好地分辨光谱细节。
产品指标
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光谱测量 |
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输入光纤 |
SM(9.5/125µm)、MMF(50/125µm、62.5/125µm) |
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波长范围 |
800nm～1650nm |
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分辨率带宽 |
0.008nm~1nm |
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分辨率设置 |
0.01nm、0.02nm、0.05nm、0.1nm、0.2nm、0.5nm、1nm |
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波长精度 |
1520 to 1620 nm ±0.005 nm 1450 to 1520 nm ±0.02 nm 全范围 ±0.05 nm |
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波长可重复性 |
±0.004 nm (1 分钟) |
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波长线性度 |
±0.008 nm (1520 to 1580 nm) ±0.015 nm (1450 to 1520 nm，1580 to 1620 nm) |
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最小采样分辨率 |
0.001nm |
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功率测量 |
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功率灵敏度 |
-85dBm(1300-1620nm，分辨率≧0.05nm) -80dBm(1000-1300nm，分辨率≧0.05nm) -55dBm(800-1000nm，分辨率≧0.05nm) |
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最大输入功率 |
+23dBm |
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功率精度 |
±0.2dB(1310/1550nm，输入功率：-20dBm) |
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功率线性度 |
±0.05dB(输入功率：-50~+10dBm) |
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最大采样点数 |
50001 |
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光回波损耗 |
>35dB(使用APC接口时) |
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偏振相关性 |
±0.05dB(1550nm) |
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光动态范围 |
峰值波长 ±0.1nm 55dB(分辨率：0.01nm) 峰值波长 ±0.4nm 75dB(分辨率：0.01nm) 峰值波长 ±1.0nm 80dB(分辨率：0.01nm) |
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扫描速度 |
0.25s (SPAN：30nm；RES：0.1nm；灵敏度：MID) |
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校准光源 |
内置&外置 乙炔吸收池（选配） |
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用技术规格参数 |
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显示 |
10.1in 1280×800 电容触摸屏 |
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接口 |
USB2.0 ×5， USB 3.0，VGA , GP-IB 以太网(10M/100M/1000M)，RS232-DB9 |
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存储 |
120GB 内存 |
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工作温度 |
5℃～35℃ |
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存储温度 |
-10℃～50℃ |
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电源 |
交流参数：100-240V 1.7A 50Hz~60Hz 直流参数：12V 5.4A 最大 |
